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Servicios integrales para diversos equipos de prueba de bancos de carga, cargadores de vehículos eléctricos, equipos de prueba automatizada y soluciones de fuentes de alimentación de CA o CC.

Plataforma de pruebas general para soluciones de pruebas versátiles y análisis de datos. 1
Plataforma de pruebas general para soluciones de pruebas versátiles y análisis de datos. 1

Plataforma de pruebas general para soluciones de pruebas versátiles y análisis de datos.

La plataforma de pruebas generales VILVA-ICT & FCT es un equipo de prueba basado en la prueba estática del probador en línea VILVA-ICT y añade diversas funciones de productos de prueba con alimentación eléctrica.
5.0
design customization

    UPS...!

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    Ventajas del producto

    Tecnología de medición de fase
    Tecnología de medición mediante optoacopladores
    Tecnología de medición actual
    Tecnología de medición de componentes de múltiples puntos finales
    Encuentra automáticamente puntos de aislamiento equipotencial.
    Tecnología de detección de alto voltaje y descarga de alto voltaje
    Medición de los valores de los componentes R, L y C en el circuito.
    16 puertos GPIO de entrada y salida
    Medición de diodos (diodo, diodo Zener)
    Tecnología de medición de transistores (transistor bipolar (BJT) y transistor de efecto de campo (FET))
    Tecnología de medición de polaridad de capacitancia (método de prueba de polaridad de corriente de fuga, TSET JET mide la polaridad de capacitancia biliar;
    Tecnología de medición inductiva (medición de las condiciones de soldadura del conector; medición del circuito abierto de los pines de componentes SMT)
     b1 (36)
     6-
     7 (5)

    detalles del producto

     c4 (5)
    c4 (5)
     c3 (5)
    c3 (5)
     c2 (5)
    c2 (5)
     c1 (5)
    c1 (5)

    Parámetros del producto

    Puntos de prueba Equipamiento estándar: 256 puntos Puntos de expansión máximos: 2048 puntos
    Utilice el sistemaXP/WIN7/WIN8/WIN10
    Especificaciones de potenciaAC100V-120V200V-240V/50HZ-60HZ/350
    Método de prueba Tipo de prensa manual, tipo de fijación manual, tipo totalmente automático
    Elementos de prueba Número máximo de pasos de prueba: 100000 pasos
    Hardware emulado
    Fuente de voltaje CC programable Precisión: 0---+/-10V 5mV
    Fuente de corriente continua programable Precisión máxima de 100 mA: 10 µA-1 mA
    Fuente de voltaje de CA programable Precisión: 10 Hz - 1 MHz
    Medición de voltaje CC Precisión: 0---+/-100V (3mV-50mV)
    Medición de corriente continua Precisión: 10 µA-200 mA
    Rango de prueba y precisión general Dio Resistencia (R) Corriente continua constante (CC) 0,01Ω-40MΩ General: 1%-3%
    Voltaje constante de CC (CV)
    Medición de fase (Fase)
    Capacitancia (C) Voltaje constante de CA (A) 1PF-1F General: 1%-5%
    Limitación de voltaje y corriente constante (CC)
    Medición de fase (Fase)
    Inductancia (L) Voltaje constante de CA (A) 10uH-60H General: 1%-5%
    Medición de fase (Fase)
    corriente continua 1uA-1A(0,5%-5%)
    Voltaje CC0-100V(0.5%-3%)
    Prueba de transistores/transistores0-10V
    Tecnología TESJET para detección de circuitos abiertos Hardware opcional
    La versión mejorada puede medir circuitos integrados y conectores más pequeños.
    Medición de frecuencia Precisión máxima de 200 MHz, rango de frecuencia de 1 Hz a 50 Hz.
    Módulo de medición de color y brillo LED
    analizador de audio Analizadores de audio y análisis de relación señal/ruido, THD y THD+N. Prensa de doble etapa y estructura INLINE.
    Admite programadores externos, cargas electrónicas, osciloscopios y otros
    módulo de potencia DUT
    1 juego de fuente de alimentación VH DC CC 10uA-100mA/100V(MÁX)
    1 juego de fuente de alimentación VH DC CV 10V-100V/100mA (MÁX.)
    2 conjuntos de fuentes de voltaje programables 1-20V, 0.5A-2A10Watt, medición de corriente 10uA-2A (límite de corriente de voltaje constante)
    4 conjuntos de salidas de potencia fija +12V, -12V, +5V, +24V / 1000mA (MÁX)
    Admite fuente de alimentación programable externa Fuente de alimentación externa programable tipo USB/GPIB/COM
    Módulo de prueba en serie
    2 conjuntos de canales de prueba en serie Velocidad de hasta 1 metro
    Protocolo de comunicación en serieIIC,SPI,UART
    Función de escaneo de límites Pruebas funcionales y escaneo de bordes de interfaz JATG
    E/S digital de 16 bits Vih:0,8-4,6V;Voh:0,1-4,9V
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